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7篇 您的检索式：作者名="Andrew Archer"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Management of Massive and Submassive Pulmonary Embolism, Iliofemoral Deep Vein Thrombosis, and Chronic Thromboembolic Pulmonary Hypertension: A Scientific Statement From the American Heart Association显示文摘	Michael R. Jaff M. Sean McMurtry Stephen L. Archer Mary Cushman Neil Goldenberg Samuel Z. Goldhaber J. Stephen Jenkins Jeffrey A. Kline Andrew D. Michaels Patricia Thistlethwaite Suresh Vedantham R. James White Brenda K. Zierler	2011	Circulation2011，，16：	3
	2	Antigenic Diversity in Eimeria maxima and the Influence of Host Genetics and Immunization Schedule on Cross-Protective Immunity显示文摘	Smith AL Patricia Hesketh Andrew Archer	2002	Infection and Immunity2002，70，5：	1
	3	Biochar: A Synthesis of Its Agronomic Impact beyond Carbon Sequestration显示文摘	Spokas Kurt A Cantrell Keri B M Novak Jeffrey Archer David W Ippolito James A Collins Harold P Boateng Akwasi A Lima Isabel M Lamb Marshall C McAloon Andrew J Lentz Rodrick D Nichols Kristine A	2012	Journal of Environmental Quality2012，，4：	1
	4	Opportunities for Value Chain Research in Sugar Indus-tries显示文摘	Andrew Higgins Peter Thorbum Ainsley Archer EmmaJakku	2007	Agricultural Systems2007，94，3：	1
	5	Management of Massive and Submassive Pulmonary Embolism, Iliofemoral Deep Vein Thrombosis, and Chronic Thromboembolic Pulmonary Hypertension: A Scientific Statement From the American Heart Association显示文摘	Michael R. Jaff M. Sean McMurtry Stephen L. Archer Mary Cushman Neil Goldenberg Samuel Z. Goldhaber J. Stephen Jenkins Jeffrey A. Kline Andrew D. Michaels Patricia Thistlethwaite Suresh Vedantham R. James White Brenda K. Zierler	2011	Circulation2011，，16：	1
	6	Biochar: A Synthesis of Its Agronomic Impact beyond Carbon Sequestration显示文摘	Spokas Kurt A Cantrell Keri B M Novak Jeffrey Archer David W Ippolito James A Collins Harold P Boateng Akwasi A Lima Isabel M Lamb Marshall C McAloon Andrew J Lentz Rodrick D Nichols Kristine A	2012	Journal of Environmental Quality2012，，4：	1
	7	采用边缘清洗技术控制边缘缺陷提高成品率显示文摘约有25%的芯片分布在300mm硅片的周边区域,近来的研究表明硅片周边区域的成品率仅为50%左右。芯片生产商越来越重视硅片边缘缺陷对合格率的影响,并积极的研发清洗方案提高良率。例如,采用边缘清洗技术能够控制边缘缺陷源,进而最大限度地提高成品率。	Andrew Bailey Leo Archer	2008	集成电路应用2008，25，10：	0

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