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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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1篇 您的检索式：作者名="Liguo Chai"
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    题名 作者 年代 出处 被引量
1On the relationship between imprint and reliability in Hf_(0.5)Zr_(0.5)O_(2) based ferroelectric random access memory显示文摘The detrimental effect of imprint,which can cause misreading problem,has hindered the application of ferroelectric HfO_(2).In this work,we present results of a comprehensive reliability evaluation of Hf_(0.5)Zr_(0.5)O_(2)-based ferroelectric random access memory.The influence of imprint on the retention and endurance is demonstrated.Furthermore,a solution in circuity is pro-posed to effectively solve the misreading problem caused by imprint.Peng Yuan Yuting Chen Liguo Chai Zhengying Jiao Qingjie Luan Yongqing Shen Ying Zhang Jibin Leng Xueli Ma Jinjuan Xiang Guilei Wang Chao Zhao 2024Journal of Semiconductors2024，45，4：0
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