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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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11篇 您的检索式：作者名="Paillet T"
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1Assessment ofpreferential flow path connectivity and hydraulic properties atsingle-borehole and cross-borehole scales in a fractured aquifer显示文摘LE BORGNE T BOUR O PAILLET F L 2006Journal of Hydrology2006，328，34：1
2Worst -case bias during total dose irradiation of SOI transistors显示文摘Ferlet- Cavrois V Colladant T Paillet P 2000IEEE Transactions of nuclear science2000，47，6：1
3Worst-case bias during total dose irradiation of SOI transistors 显示文摘FERLET-CAVROIS V COLLANDANT T PAILLET P 2000IEEE Trans Nucl Sci2000，47，6：1
4Worst-Case Bias During Total Dose Irradiation of SOI Transistors显示文摘Ferlet-Cavrois Colladant V Paillet T 2000IEEE Trans on Nuclear Science2000，47，6：1
5Gasoline electrification:moisture and temperature influence显示文摘 Vaqquez J Paillet T 2005Journal of Electrostatics2005，63，：1
6Shear-indueed orientation phenomenain suspensions of cellulose mierocrystals, revealed by smallangle X-ray seattering显示文摘Ebeling T Paillet M Borsali R 1999Langmuir1999，15，：1
7Worst - case bias during total dose irradiation of SOI transistors 显示文摘Ferlet - Cavrois V Colladant T Paillet P 2000IEEE Trans Nucl Sci2000，47，：1
8Worst-Case Bias during Total Dose Irradiation of SOI Transistors显示文摘FERLET-CAVROIS V COLLADANT T PAILLET P 2000IEEE Transactions on Nuclear Science2000，47，6：1
9Space charge density at the wall in the case of heptane flowing through an insulating pipe 显示文摘Paillet T Moreau E Tourchard G 2001Journal of Electrostatics2001，53，：1
10Shear-Induced orientation phenomena in suspensions of cellulose microcrystals,revealed by small angle X-ray scattering显示文摘Ebeling T Paillet M Borsali R 1999Langmuir1999，15，：1
11Worst - case bias during total dose irradiation of SOl transistors 显示文摘Ferlet -Cavrois V CoUandant T Paillet P 2000IEEE Transactions on Nuclear Science2000，47，6：1
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